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使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領xian電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

參數查看，快速清晰。

推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50％，從而實現無yu倫比的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業知識提供無yu倫比的測試指導，并讓您對最終結果充滿信息。

特點

Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件
立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數

準確的 C-V 表征

使用吉時利新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業領xian的 CVU 架構中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。

特點

同類產品中首kuan能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測量電容、電導和導納
使用 4200A-CVIV 多路開關最多可測量四個通道

使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量

測量、切換、重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態

穩定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。

特點

不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進行飛安測量
多達 9 個 SMU 通道
針對長電纜或大卡盤進行了優化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

“點擊"測試定序
“手動"探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現調試

降低成本并保護您的投資

吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。只需點擊一下或一個電話即可獲得維修服務，在此過程中，無需報價或填寫采購單，也不會有審批延誤。

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Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

產品描述 Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

參數查看，快速清晰。

準確的 C-V 表征

測量、切換、重復。

穩定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

降低成本并保護您的投資

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Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

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準確的 C-V 表征

測量、 切換、 重復。

穩定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

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